想知道什么是高精度原子力顯微鏡那不妨看看本篇

更新時間：2022-08-05

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　　高精度原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。

　　它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。

　　微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測，當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。

　　AFM測量對樣品無特殊要求，不需要對樣品進行特殊處理，僅在大氣環境下就可測量固體表面、吸附體系等，得到三維表面粗造度等信息。

　　高精度原子力顯微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。

　　原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧與斯坦福大學的Calvin Quate于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡(SPM)的觀測方法。

　　原子力顯微鏡(AFM)與掃描隧道顯微鏡(STM)最大的差別在于并非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性。

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